怎么選擇電容投切器件
發(fā)布時(shí)間:
2019-08-15
怎么選擇電容投切器件
湖南森能電力科技有限公司 周景
1概述
電容投切器件,也叫電容器投切開(kāi)關(guān),是專用于無(wú)功補(bǔ)償裝置中電容器投切的器件,主要器件有交流接觸器、晶閘管開(kāi)關(guān)、復(fù)合開(kāi)關(guān)和選相開(kāi)關(guān)(同步開(kāi)關(guān))等。
2.關(guān)于無(wú)功補(bǔ)償裝置和電容器投切器件
無(wú)功補(bǔ)償裝置:是指通過(guò)提高電網(wǎng)功率因數(shù)實(shí)現(xiàn)提高電能利用效率、降低電網(wǎng)損耗、提升供電質(zhì)量等功能的設(shè)備。電容器投切開(kāi)關(guān):是指無(wú)功補(bǔ)償裝置中,用于投切電容器的開(kāi)關(guān)設(shè)備。
眾所周知,通過(guò)改變并聯(lián)電容器的容量來(lái)改變無(wú)功功率,是當(dāng)前無(wú)功補(bǔ)償最基本和被普遍采用的經(jīng)濟(jì)有效的方法,無(wú)功補(bǔ)償裝置中最主要的元件就是電容器和電容器投切開(kāi)關(guān),而電容器投切器件的性能直接影響到電容器的使用壽命及補(bǔ)償效果,所以其性能至關(guān)重要。
3.電容投切器件發(fā)展歷史
電容投切器件由簡(jiǎn)單粗獷到理性精細(xì)經(jīng)歷了4個(gè)發(fā)展階段:
(一)交流接觸器:最先應(yīng)用于低壓電容器投切的開(kāi)關(guān)是交流接觸器,這是一種傳統(tǒng)的電容器投切方式,由于三相交流電的相位互成120°,對(duì)交流接觸器投切控制,理論上不存在最佳操作相位點(diǎn)(即投切瞬時(shí)不可選擇性),使得它投入或切除電網(wǎng)時(shí),要產(chǎn)生一個(gè)暫態(tài)的過(guò)渡過(guò)程,又因電容器是電壓不能瞬變的器件,并聯(lián)電容器由交流接觸器投切電網(wǎng)時(shí),由于其相位點(diǎn)是隨機(jī)的,所以會(huì)產(chǎn)生幅值很大、頻率很高的浪涌電流(涌流最大時(shí)可能超過(guò)100倍電容器額定電流)。涌流不僅會(huì)對(duì)電網(wǎng)產(chǎn)生不利的干擾,對(duì)交流接觸器易產(chǎn)生電弧、易燒損觸頭,而且涌流、過(guò)電壓會(huì)加速電容器的失效,減少電容器的使用壽命,甚至爆炸,所以采用交流接觸器的投切方式諧波污染大、維護(hù)成本高、不適于頻繁操作。為了改善這些缺陷,出現(xiàn)了所謂投切電容器專用接觸器,就是在接觸器的主觸頭處并以帶電阻的輔助觸頭,在合閘時(shí)先合上輔助觸頭,然后再合上主觸頭,以此減低浪涌電流;而分閘時(shí)時(shí)序恰好相反,先分主觸頭,而后再分輔助觸頭,以此減輕電弧對(duì)觸頭的燒損。但這一措施僅僅是一種改良而已,并未在根本上解決問(wèn)題,涌流、過(guò)電壓和諧波污染仍然存在,對(duì)電容器和裝置的壽命仍有很大的影響,所以其在低壓電容器投切領(lǐng)域的應(yīng)用將越來(lái)越少。但由于其投資低、控制簡(jiǎn)單,所以至今在不少技術(shù)要求低的地方仍在應(yīng)用,但可以預(yù)見(jiàn),隨著電容器投切開(kāi)關(guān)的發(fā)展,將逐步被淘汰。
(二)晶閘管開(kāi)關(guān):隨著電力電子器件應(yīng)用的發(fā)展和普及,后來(lái)人們研發(fā)出由可控硅為核心的晶閘管開(kāi)關(guān)(固態(tài)繼電器)。其原理為通過(guò)電壓、電流過(guò)零檢測(cè)控制,保證在電壓零區(qū)附近投入電容器組,從而避免了合閘涌流的產(chǎn)生,而切斷又在電流過(guò)零時(shí)完成,避免了暫態(tài)過(guò)電壓的出現(xiàn),這就從功能上符合了電容器的過(guò)零投切的要求,另外由于可控硅的觸發(fā)次數(shù)沒(méi)有限制,可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)補(bǔ)償(響應(yīng)時(shí)間在毫秒級(jí)),因此適用于電容器的頻繁投切,非常適用于頻繁變化的負(fù)荷情況,相對(duì)于交流接觸器有了質(zhì)的飛躍。然而固態(tài)繼電器在應(yīng)用上有致命的弱點(diǎn):就是在通電運(yùn)行時(shí)可控硅導(dǎo)通電壓降約為1V左右,損耗很大(以額定容量100Kvar的補(bǔ)償裝置為例,每相額定電流約為145A,則可控硅額定導(dǎo)通損耗為145×1×3=435W),由于有大的功耗所以需要散熱以避免PN 結(jié)的熱擊穿,為了降溫就需要使用面積很大的散熱器,甚至需要風(fēng)扇進(jìn)行強(qiáng)迫通風(fēng),另外可控硅對(duì)電壓變化率(dv/dt)非常敏感,遇到操作過(guò)電壓及雷擊等電壓突變的情況很容易誤導(dǎo)通而被涌流損壞,即使安裝避雷器也無(wú)濟(jì)于事,因?yàn)楸芾灼髦荒芟拗齐妷旱姆逯?,并不能降低電壓變化率。可控硅開(kāi)關(guān)的缺點(diǎn)是結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積大、損耗大、成本高、可靠性差,優(yōu)點(diǎn)是能實(shí)現(xiàn)過(guò)零投切、動(dòng)作迅速、反應(yīng)快,多用于動(dòng)態(tài)補(bǔ)償?shù)膱?chǎng)合,而不適用于常規(guī)低壓電容器投切的無(wú)功補(bǔ)償裝置中。
(三)復(fù)合開(kāi)關(guān):當(dāng)仔細(xì)分析研究了交流接觸器和可控硅開(kāi)關(guān)的各自優(yōu)缺點(diǎn)之后發(fā)現(xiàn),如果把二者巧妙地結(jié)合來(lái),優(yōu)勢(shì)互補(bǔ),發(fā)揮接觸器運(yùn)行功耗小和可控硅開(kāi)關(guān)過(guò)零投切的優(yōu)點(diǎn),便是一個(gè)較為理想的投切元件,這就是開(kāi)發(fā)復(fù)合開(kāi)關(guān)的基本思路,這種投切開(kāi)關(guān)同時(shí)具備了交流接觸器和電力電子投切開(kāi)關(guān)二者的優(yōu)點(diǎn),不但抑制了涌流、避免了拉弧而且功耗較低,不再需要配備笨重的散熱器和冷卻風(fēng)扇。要把二者結(jié)合起來(lái)的關(guān)鍵是相互之間的時(shí)序配合必須默契,可控硅開(kāi)關(guān)負(fù)責(zé)控制電容器的投入和切除,交流接觸器負(fù)責(zé)保持電容器投入后的接通,當(dāng)接觸器投入后可控硅開(kāi)關(guān)就立即退出運(yùn)行,這樣就避免了可控硅元件的發(fā)熱。這種看似很理想的復(fù)合開(kāi)關(guān)自從2002 年開(kāi)始,由原來(lái)全國(guó)僅數(shù)家企業(yè)研發(fā)生產(chǎn),至今已擴(kuò)展到數(shù)十家企業(yè),雖外型結(jié)構(gòu)或電路有所不同,但內(nèi)在原理基本相同:用小形三端封裝的可控硅作為電容器的投入和切除單元,用大功率永磁式磁保持繼電器代替交流接觸器負(fù)責(zé)保持電容器投入后的接通,其過(guò)零檢測(cè)元件是一粒電壓過(guò)零型光耦雙向可控硅。從原理上看是理想的投切元件,但實(shí)際上并非如此,它存在下面一些缺陷:
(1)小形三端(TOP)封裝可控硅由于結(jié)構(gòu)性的原因,目前這類型式的可控硅其短時(shí)通流容量不能做得很低(低于60A ),反向耐壓一般也只能達(dá)到1600V 左右,這就限制了它的應(yīng)用范圍。由仿真和計(jì)算證明在38OV 的系統(tǒng)電壓下,電容器理想開(kāi)斷時(shí)的穩(wěn)態(tài)過(guò)電壓就可能達(dá)到1600V ,當(dāng)系統(tǒng)電壓高于380V (這是常有的情況)或非理想開(kāi)斷時(shí)的暫態(tài)過(guò)電壓就可能遠(yuǎn)大于可控硅的反向耐壓位1600V,眾所周知可控硅是一種對(duì)熱和電沖擊很敏感的半導(dǎo)體元件,一旦出現(xiàn)沖擊電流或電壓超過(guò)其容許值時(shí),就會(huì)立即使其永久性的損壞。實(shí)際運(yùn)行情況已經(jīng)表明了復(fù)合開(kāi)關(guān)的故障率相當(dāng)高。
(2)由于采用了可控硅等電子元器件其結(jié)構(gòu)復(fù)雜成本上升,與交流接觸器在價(jià)格上難以相比。
(3)復(fù)合開(kāi)關(guān)的過(guò)零是由電壓過(guò)零型光耦檢測(cè)控制的,從微觀上看它并不是真正意義上的過(guò)零投切,而是在觸發(fā)電壓低于16V~40V 時(shí)(相當(dāng)于2~5電度)導(dǎo)通,因而仍有一點(diǎn)涌流。
(4)復(fù)合開(kāi)關(guān)技術(shù)既使用可控硅又使用繼電器,于是結(jié)構(gòu)就變得相當(dāng)復(fù)雜,并且由于可控硅對(duì)dv/dt的敏感性也比較容易損壞。
由上述分析比較可見(jiàn),各種電容器投切開(kāi)關(guān)并非十分完美,有必要進(jìn)一步研究開(kāi)發(fā)出一種更為理想的電容器過(guò)零投切開(kāi)關(guān)。
(四)選相開(kāi)關(guān)(又稱同步開(kāi)關(guān)):是近年來(lái)最新發(fā)展起來(lái)的高性能投切開(kāi)關(guān),不僅可擔(dān)當(dāng)無(wú)功補(bǔ)償裝置中的電容器投切開(kāi)關(guān)(如LXK系列智能選相開(kāi)關(guān)),還可擔(dān)當(dāng)任何需要同步操作負(fù)荷設(shè)備的投切開(kāi)關(guān)(如高壓同步開(kāi)關(guān),或高壓選相開(kāi)關(guān)),是傳統(tǒng)的機(jī)械開(kāi)關(guān)與現(xiàn)代微電子技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它吸收了交流接觸器控制結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,復(fù)合開(kāi)關(guān)零電壓投入、零電流切除等優(yōu)點(diǎn),成功地將投入、切除時(shí)瞬間涌流控制在3倍額定運(yùn)行電流以內(nèi),徹底解決了在電容器投切過(guò)程中出現(xiàn)的高電壓諧波和大涌流等問(wèn)題;選相開(kāi)關(guān)以單片機(jī)為核心,輔以高精度的采樣回路和合理的程序設(shè)計(jì)來(lái)替換復(fù)合開(kāi)關(guān)中最易損壞的可控硅元件,不僅避免了可控硅組件所容易出現(xiàn)的故障,還將選相精度從原來(lái)復(fù)合開(kāi)關(guān)的2~5電度角提高到1~3電度角,真正意義的做到了無(wú)涌流,實(shí)現(xiàn)了理想的過(guò)零投切;為了更進(jìn)一步抑制電容器投切開(kāi)關(guān)開(kāi)斷時(shí)的暫態(tài)過(guò)電壓,選相開(kāi)關(guān)增設(shè)了有效的放電回路,將過(guò)電壓限定在安全區(qū)內(nèi),使其能安全可靠的適用于頻繁投切;由于選相開(kāi)關(guān)應(yīng)用了單片機(jī)技術(shù),不僅能通過(guò)RS485通訊控制方式對(duì)多至64路電容器進(jìn)行控制,還具備通訊功能,可將基層單位的電測(cè)量信息實(shí)時(shí)發(fā)送到上級(jí)電網(wǎng),為發(fā)展智能化電網(wǎng)作好準(zhǔn)備;選相開(kāi)關(guān)可以實(shí)現(xiàn)共補(bǔ)和分補(bǔ),以適應(yīng)用戶的不同需求;由于選相開(kāi)關(guān)的驅(qū)動(dòng)功耗僅有1-3W,最大限度的做到了節(jié)約能源;選相開(kāi)關(guān)不僅廣泛適用于低壓無(wú)功補(bǔ)償裝置,或在特殊場(chǎng)合下作為開(kāi)關(guān)元件使用,還特別適用于南方戶外夏天高溫潮濕(+60℃以上)、北方戶外低溫寒冷(-40℃以下)的惡劣環(huán)境溫度下長(zhǎng)期運(yùn)行。綜上所述,選相開(kāi)關(guān)不僅大大提高了電容器投切開(kāi)關(guān)的安全可靠性,還很節(jié)能環(huán)保,經(jīng)濟(jì)耐用,是交流接觸器及復(fù)合開(kāi)關(guān)理想的換代產(chǎn)品,專家普遍認(rèn)為:選相開(kāi)關(guān)必將替代復(fù)合開(kāi)關(guān)和交流接觸器成為無(wú)功補(bǔ)償電容器投切開(kāi)關(guān)的主流。
主要電容投切器件對(duì)比
|
開(kāi)關(guān)類型對(duì)比項(xiàng)目 |
交流接觸器 |
復(fù)合開(kāi)關(guān) |
選相開(kāi)關(guān) |
|
系統(tǒng)運(yùn)行成本 |
有電弧,較高的浪涌電流及開(kāi)關(guān)過(guò)電壓,補(bǔ)償電容易擊穿,需經(jīng)常檢修更換,長(zhǎng)期運(yùn)行成本高。 |
單觸點(diǎn)磁保持結(jié)構(gòu),機(jī)械及電壽命短,可控硅容易損壞,不易檢查觸點(diǎn)燒壞情況,長(zhǎng)期運(yùn)行成本較高。 |
無(wú)電弧,補(bǔ)償電容使用壽命長(zhǎng),單觸點(diǎn)磁保持結(jié)構(gòu),無(wú)可控硅半導(dǎo)體元件,故障率低,長(zhǎng)期運(yùn)行成本極低。 |
|
安全穩(wěn)定性 |
在控制電壓較低或較高時(shí)易燒線圈,可導(dǎo)致電容器擊穿,總閘跳閘,安全穩(wěn)定性差。 |
可控硅電壓變化率敏感,對(duì)過(guò)電流的承受能力不強(qiáng),存在擊穿隱患,安全穩(wěn)定性仍較弱 |
采用微處理器驅(qū)動(dòng)磁保持繼電器控制觸點(diǎn),拒絕使用可控硅,杜絕了因可控硅被擊穿的帶來(lái)的隱患,大大提高了安全穩(wěn)定性。 |
|
產(chǎn)品成本 |
低 |
較高 |
適中 |
|
涌流 |
不檢測(cè)電壓是否過(guò)零,涌流達(dá)20倍以上 |
電壓過(guò)零觸發(fā)無(wú)涌流 |
電壓過(guò)零接通無(wú)涌流 |
|
電弧 |
不檢測(cè)電流是否過(guò)零,電弧強(qiáng) |
電流過(guò)零切除無(wú)電弧 |
電流過(guò)零切除無(wú)電弧 |
|
過(guò)載能力 |
差 |
較強(qiáng) |
強(qiáng) |
|
控制系統(tǒng) |
簡(jiǎn)單 |
復(fù)雜 |
簡(jiǎn)單 |
|
保持工作噪音 |
大 |
小 |
小 |
|
電源污染 |
啟動(dòng)和分?jǐn)嗨查g有諧波污染 |
無(wú) |
無(wú) |
|
驅(qū)動(dòng)功耗 |
10W—100W |
3-10W |
1-3W |
|
可靠性 |
只起開(kāi)關(guān)作用,無(wú)保護(hù)功能。 |
有缺相保護(hù)、開(kāi)關(guān)不到位保護(hù)等 |
具有自診斷故障保護(hù)、電源電壓缺相保護(hù)、停電保護(hù)等功能。 |
|
補(bǔ)償電容壽命 |
短 |
較長(zhǎng) |
長(zhǎng) |
|
使用壽命 |
額定觸點(diǎn)壽命短,約一萬(wàn)次到幾萬(wàn)次。 |
觸點(diǎn)壽命及機(jī)械壽命約幾十萬(wàn)次,可控硅工作時(shí)間較長(zhǎng),所需承受電壓高,易損壞。 |
觸點(diǎn)壽命及機(jī)械壽命可達(dá)百萬(wàn)次,使用壽命長(zhǎng) |
|
抗諧波能力 |
弱 |
弱 |
非常強(qiáng) |
|
抗干擾能力 |
弱 |
弱 |
強(qiáng) |
|
操作頻率 |
每小時(shí)百次到千次 |
每小時(shí)幾十到百次 |
每小時(shí)百次到千次 |
|
應(yīng)用電壓等級(jí) |
400V |
400V |
400V時(shí)可使用繼電器高壓時(shí)可使用斷路器 |
|
驅(qū)動(dòng)形式 |
交流線圈驅(qū)動(dòng) |
可控硅驅(qū)動(dòng)直流線圈磁保持繼電器 |
微處理器驅(qū)動(dòng)直流線圈磁保持繼電器 |
|
觸點(diǎn)結(jié)構(gòu) |
橋式結(jié)構(gòu)機(jī)械式 |
繼電器單觸點(diǎn)結(jié)構(gòu)機(jī)械半導(dǎo)體并聯(lián)式 |
繼電器單觸點(diǎn)結(jié)構(gòu)機(jī)械式 |
|
可控硅受壓 |
—— |
線電壓 |
—— |